BS EN 2591-B1-1992 电光连接元件.试验方法.第B1部分:低电平接触电阻

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 13:25:34  浏览:8743   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Elementsofelectricalandopticalconnection.Testmethods.Contactresistance.Lowlevel
【原文标准名称】:电光连接元件.试验方法.第B1部分:低电平接触电阻
【标准号】:BSEN2591-B1-1992
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1992-12-15
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:接触电阻;试验设备;试样制备;试验条件;航天器部件;电连接器;维纤光学连接器;飞行器部件;电阻测量;电路
【英文主题词】:testingconditions;contactresistance;electricconnectors;specimenpreparation;resistancemeasurement;circuits;spacetechnologycomponents;testequipment;aircraftcomponents;fibreopticconnectors
【摘要】:
【中国标准分类号】:V25
【国际标准分类号】:
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语